Technický pracovník/pracovníčka pre výskum a vývoj

Informácie o pracovnom mieste

Náplň práce, právomoci a zodpovednosti

Rámcová náplň práce:

• práca operátora duálneho rastrovacieho elektrónového mikroskopu (SEM-FIB) vybaveného fokusovaným iónovým zväzkom (FIB) a energiovo disperzným spektrometrom (EDS),
• morfologická a prvková analýza vzoriek využitím SEM-FIB zariadenia s EDS detektorom, vyhotovenie SEM snímok,
• povrchové opracovanie a nano-štrukturovanie vzoriek za pomoci fokusovaného iónového zväzku (FIB),
• príprava TEM lamiel a priečnych rezov využitím fokusovaného iónového zväzku (FIB),
• vykonávať sústavnú analýzu a syntézu vedeckých a technických informácií,
• tvorivo riešiť úlohy rozvoja vedy a techniky s dôrazom na elektrónovo mikroskopické a spektroskopické techniky,
• príprava podkladov pre materiálovo-technické zabezpečenie prevádzky pracoviska v súvisiacich činnostiach,
• vykonávať a plniť ďalšie úlohy podľa pokynov priameho nadriadeného zamestnanca.

Pracovné podmienky

• plný úväzok
• nástup ihneď

Zamestnanecké výhody, benefity

• Práca v stabilnej a dlhodobo etablovanej inštitúcie, perspektívne zamestnanie v dynamicky rozvíjajúcom sa kolektíve, zapojenie sa do medzinárodných vedecko-výskumných projektov, možnosť pracovať na špičkových zariadeniach a spolupracovať so svetovo uznávanými inštitúciami.
• Pružný pracovný čas, 5 dní dovolenky naviac, 1 deň voľna/štvrťrok pre zamestnancov s nezaopatreným dieťaťom do 15 rokov, voľno pri narodení dieťaťa, stravovanie v podnikovej jedálni, príspevky pri narodení, uzatvorení manželstva, v soc. núdzi, pri osamostatnení sa, pri dlhodobej pracovnej neschopnosti, darcom krvi, na liečebnú starostlivosť, na kultúrne podujatia, príspevok na rekreáciu, pracovné voľno v súvislosti so športovou reprezentáciou, využívanie telovýchovných zariadení, príspevky na doplnkové dôchodkové sporenie, príspevky na zdravotnú pomôcku, MULTISPORT preukaz, možnosť občasne pracovať z domácnosti

Informácie o výberovom konaní

Na pracovný pohovor budú pozvaní iba vybraní uchádzači.

Prijatému uchádzačovi bude poskytnuté náležité školenie pre prácu na duálnom elektrónovom mikroskope SEM-FIB.

Požiadavky na zamestnanca

• Pozícia je vhodná pre absolventa
• Minimálne dosiahnuté vzdelanie: vysokoškolské II. stupňa
• Vzdelanie v odbore: fyzikálneho resp. technického zamerania
• Anglický jazyk – stredne pokročilý (B2)